Optris Xi 05M 是一款短波紅外線熱像儀，在非接觸式熱成像領域，為複雜物件的測量提供了創新性、經濟性和高精度。此熱像儀設計工作於短波紅外線波段（05M：500 – 540 nm），可精確測量高溫鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷和半導體等材料的表面溫度。 Optris Xi 05M 能夠滿足各行業的嚴苛需求，提供寬廣的高溫測量範圍、卓越的精度和可自訂的視野配置。
由非反射材料製成的測量對象通常具有高且穩定的發射率，且不受表面紋理的影響，尤其是在長波光譜範圍內。相較之下，金屬和反射材料在長紅外線波長範圍內表現出較低的發射率。這種在長波紅外光譜範圍內的低發射率會導致溫度測量結果不一致且不可靠。
Xi 05M MeltScope紅外線熱像儀的短波長光譜範圍與大多數金屬材料的峰值發射率相匹配，從而能夠實現精確的遠程溫度測量。根據普朗克輻射定律，波長越短，紅外線輻射越強，這降低了發射率變化對測量重複性的影響。因此，考慮到更高的溫度測量範圍，對高溫反射材料進行非接觸式溫度測量時，應採用盡可能短的波長。 Xi 05M紅外線熱像儀配備了自主熱熱點檢測功能，進一步提升了其在監測和檢測應用中的有效性。 Xi 05M由德國設計和製造，與長波長紅外線熱像儀相比，具有更高的精度、準確度和重複性。
Xi 05M紅外線熱像儀提供 396 x 300 像素的中等解析度熱成像，無需子量程即可測量 950°C 至 2450°C 的溫度。其高距離光斑尺寸比使其能夠從相當遠的距離精確採集溫度數據，超越了目前主流高溫計的光學性能。電動調焦功能可實現對測量目標的遠端精確對焦。 Optris
Xi 05M MeltScope 採用工業級結構，確保在嚴苛的工業環境中可靠運行，協助製程工程師取得精確的紅外線溫度測量數據。其緊湊、耐用且防水的設計使其適用於固定安裝和外掛安裝，確保在各種製造環境中都能長期穩定運作。
Optris Xi 05M 以乙太網路作為主要接口，可與電腦無縫連接，並以 20 Hz 的幀速率傳輸全尺寸影像。 Optris Xi 05M 的 USB 介面同樣以乙太網路為主要接口，支援 20 Hz 的幀速率傳輸全尺寸影像。此外，它還提供一個同樣以 20 Hz 幀速率運行的 USB 接口，用於傳輸 132 x 100 像素的子圖像。其自主運作功能減少了對複雜軟體開發的需求，便於輕鬆整合到控制系統中。其他功能包括自動光斑檢測、直接類比輸出 (0/4-20mA) 以及與 Ethernet/IP、Modbus TCP/IP、RS485 和 Profinet 等工業現場匯流排協定的相容性。這些功能使 Xi 05M 非常適合原始設備製造商 (OEM) 應用，並簡化了其與工業機械的整合。對於尋求價格實惠且配備強大軟體平台的紅外線熱像儀進行熱影像處理和溫度資料擷取的研究人員而言，這款產品尤其理想。我們也為開發特定應用軟體解決方案的整合商提供開發套件。
這些特性提升了紅外線熱像儀在品質控制、狀態監控以及研發等應用中提供精準可靠的表面溫度測量的能力。 Xi 05M 的靈活性支援其整合到各種工業系統中，從而增強了對特定運作需求的適應性。憑藉其先進的功能，Optris Xi 05M 成為工業環境中固定安裝紅外線成像的穩健且經濟高效的解決方案。
Xi 05M紅外線熱像儀相容於多種專為嚴苛環境條件設計的配件。這些配件包括可將工作溫度範圍擴展至 250 攝氏度的水冷外殼，以及可在多塵環境下保持鏡頭清潔、確保連續測量的空氣吹掃裝置。其他配件還包括機械安裝選項、電氣接口和連接線纜。
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模型
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Xi 05M ETH 28° x 21°
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Xi 05M ETH 14° x 10°
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偵測器
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光學解析度
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396x300像素
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396x300像素
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像素間距
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15 微米
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15 微米
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偵測器
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CMOS
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CMOS
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光譜範圍
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500-540奈米
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500-540奈米
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光學濾波器
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不
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不
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幀率
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全解析度：20 Hz（乙太網路）**1)
子幀模式：20 Hz（USB，自主）**1)
線掃描：500 Hz（以太網，獨立） **1)
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全解析度：20 Hz（乙太網路）**1)
子幀模式：20 Hz（USB，自主）**1)
線掃描：500 Hz（以太網，獨立） **1)
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光學的
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視野
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28° x 21°
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14° x 10°
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焦距 [mm]
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12.0
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25.0
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F 數
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2.0
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2.8
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距離光斑比 (D:S)
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195:1
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400:1
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到目標的最小距離
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300毫米
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300毫米
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可互換光學元件
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不
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不
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測量
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物體測量範圍
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900 – 2450 °C
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900 – 2450 °C
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準確性
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對於溫度低於 2000 °C 的物體：20 Hz 和 500 Hz 頻率下讀數的 ±1%。
對於溫度高於 2000 °C 的物體：20 Hz 和 500 Hz 頻率下讀數的 ±2%。
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對於溫度低於 2000 °C 的物體：20 Hz 和 500 Hz 頻率下讀數的 ±1%。
對於溫度高於 2000 °C 的物體：20 Hz 和 500 Hz 頻率下讀數的 ±2%。
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熱敏性（NETD）
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< 2.5 K (< 1800 °C) / 1800 °C)
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< 2.5 K (< 1800 °C) / 1800 °C)
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最小可偵測光斑尺寸（IFOV）：1 像素
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0.7毫米
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0.19毫米
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最小可測量光斑尺寸 MFOV
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2.8毫米
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0.8毫米
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MFOV測量視場
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4x4像素
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4x4像素
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熱身時間
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10分鐘
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10分鐘
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發射率/透射率/反射率
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可調範圍：0.100…1.100
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可調範圍：0.100…1.100
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介面
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介面
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USB 2.0 / 乙太網路 (100 Mbit/s) / PoE / RS 485 **2)
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USB 2.0 / 乙太網路 (100 Mbit/s) / PoE / RS 485 **2)
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支援的協議
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USB、乙太網路（靜態）、RS485 **2）、序列通訊（選購：EtherNet/IP、Profinet、Modbus TCP、Ethernet TCP）
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USB、乙太網路（靜態）、RS485 **2）、序列通訊（選購：EtherNet/IP、Profinet、Modbus TCP、Ethernet TCP）
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相容軟體
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PIX Connect、EasyComm、ConnectSDK、EasyAPI、DirectSDK
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PIX Connect、EasyComm、ConnectSDK、EasyAPI、DirectSDK
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類比輸入/輸出
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直接輸出/輸入
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1路輸入（類比或數位）
1 個類比輸出（0/4–20 mA）
電氣隔離
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1路輸入（類比或數位）
1 個類比輸出（0/4–20 mA）
電氣隔離
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可選工業製程介面（PIF）
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3 個類比輸出（0/4–20 mA 或 0–10 V）
3 個警報輸出（繼電器，0–30 V / 400 mA）
3路輸入（類比或數位）
1 個故障安全裝置（LED 和繼電器）
最多可堆疊 3 個 PIF，電氣隔離
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3 個類比輸出（0/4–20 mA 或 0–10 V）
3 個警報輸出（繼電器，0–30 V / 400 mA）
3路輸入（類比或數位）
1 個故障安全裝置（LED 和繼電器）
最多可堆疊 3 個 PIF，電氣隔離
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電纜長度
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乙太網路/RS485：1公尺（標準）、5公尺、10公尺、20公尺（可擴充至100公尺）
USB：1米（標準）、3米、5米
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乙太網路/RS485：1公尺（標準）、5公尺、10公尺、20公尺（可擴充至100公尺）
USB：1米（標準）、3米、5米
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影像處理
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配置
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透過 PIX Connect
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透過 PIX Connect
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手術
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自主獨立式和/或電腦支援式
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自主獨立式和/或電腦支援式
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能力
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高溫金屬表面和熔融金屬測量、感興趣區域的自主溫度評估、線掃描器、事件捕獲器、合併器、警報器、比較功能
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高溫金屬表面和熔融金屬測量、感興趣區域的自主溫度評估、線掃描器、事件捕獲器、合併器、警報器、比較功能
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一般的
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尺寸
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直徑 36 毫米 x 長度 112-127 毫米（取決於鏡頭），螺紋：M30x1
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直徑 36 毫米 x 長度 112-127 毫米（取決於鏡頭），螺紋：M30x1
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房屋材料
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不銹鋼
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不銹鋼
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重量
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270克（不含安裝支架）
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270克（不含安裝支架）
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三腳架
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1/4-20 UNC
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1/4-20 UNC
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重點
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電動
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電動
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原產地
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德國
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德國
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環境與認證
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工作溫度範圍
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0...50°C
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0...50°C
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儲存溫度範圍
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-40...70°C
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-40...70°C
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相對濕度
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10 – 95%，非冷凝
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10 – 95%，非冷凝
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保護等級
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IP67，NEMA-4
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IP67，NEMA-4
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EMC
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2014/30/EU
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2014/30/EU
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震驚
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IEC 60068-2-27（25 G 和 50 G）
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IEC 60068-2-27（25 G 和 50 G）
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振動
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IEC 60068-2-6（正弦波形），IEC 60068-2-64（寬頻噪音）
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IEC 60068-2-6（正弦波形），IEC 60068-2-64（寬頻噪音）
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標準
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CE、UKCA、RoHS
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CE、UKCA、RoHS
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力量
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電源
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8-30V直流供電，乙太網路供電（PoE），USB接口
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8-30V直流供電，乙太網路供電（PoE），USB接口
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耗電量
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最大功率 2.5 瓦
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最大功率 2.5 瓦
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零件編號
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OPTXI05MO28T245
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OPTXI05MO14T245
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補充說明
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1) 500 Hz 模式的啟動溫度提高至 1050°C
2) 使用 RS485 介面時，無法直接進行輸入和輸出。
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1) 500 Hz 模式的啟動溫度提高至 1050°C
2) 使用 RS485 介面時，無法直接進行輸入和輸出。
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克服浸入式熱電偶在鑄造過程中的局限性
在金屬加工中，鑄造是將金屬加熱至液態，然後倒入模具（通常使用坩堝）中的製程。模具中包含所需形狀的負模，金屬在冷卻過程中凝固，形成最終鑄件。這種方法尤其適用於生產複雜形狀，而這些形狀如果採用其他技術則難以實現或成本過高。
鑄造工藝具有表面品質高、材料浪費少等優點，但也成本高昂，主要體現在模具製造和金屬加熱所需的能源上。當金屬在澆包中冷卻時，溫度會隨著每次澆注而逐漸降低。如果溫度低於臨界值，鑄件可能無法完成，導致缺陷。在這種情況下，缺陷件必須報廢，造成先前投入的能源浪費。為了避免這種情況，必須密切監測鑄造溫度，一旦熔融金屬溫度低於最佳範圍，就應立即停止鑄造。如有必要，可以重新加熱金屬，以確保鑄造成功。
傳統上，企業每年都會購買浸入式熱電偶作為耗材，但這些熱電偶在高溫下極易失效。熱電偶在鑄造過程中經常因惡劣條件而失效，這些條件包括極高的溫度、腐蝕性環境以及重複使用造成的物理磨損。高溫會導致熱電偶的保護套老化或熔化，使感測器元件暴露在外，最終導致失效。持續浸入熔融金屬中也會引起化學反應，進一步劣化熱電偶的材料，縮短其使用壽命。此外，搬運過程中的機械損傷以及惡劣的鑄造環境也會導致熱電偶頻繁失效，使其難以進行持續、長期的溫度測量。
短波紅外線熱像儀：精確測量液態金屬溫度的關鍵
紅外線熱像儀對於優化鑄造過程至關重要，它能夠即時監測溫度，確保熔融金屬保持在最佳溫度範圍內。這種高精度顯著降低了鑄件不完整或凝固收縮等缺陷的風險。透過收集詳細的熱數據，紅外線熱像儀可以實現即時調整，從而避免代價高昂的錯誤並最大限度地減少材料浪費。此外，它還能監測冷卻速率，促進均勻凝固並獲得高品質的表面光潔度。
由於金屬的高反射率和變化的發射率，使用長波紅外線熱像儀測量液態金屬溫度面臨許多挑戰，可能導致讀數不準確。而像PI 1M或Xi 1M這樣的短波紅外線熱像儀則利用金屬在短波長下更高的發射率以及紅外線輻射強度在這些波長下呈指數級增長的特性，提供了更有效的解決方案。這種方法能夠獲得更精確的溫度測量結果，即使在最嚴苛的金屬鑄造環境中也能確保數據的可靠性。
PI1M紅外線熱像儀在非接觸式測量澆注液態金屬流方面表現出色，可在整個鑄造過程中實現精確監控。其高影像品質和易於自動化的特性使其成為與可程式邏輯控制器（PLC）整合的理想選擇，PLC能夠處理熱數據，從而確定製程中的最佳停止點。這種技術的無縫整合提高了金屬鑄造的效率和安全性。此熱像儀還可以配備冷卻套，以防止灰塵和污垢進入，使其能夠在高達315°C的環境溫度下可靠運作。內建的故障保護功能透過偵測電纜斷裂、電腦關機或軟體崩潰等問題，提供額外的安全保障，使其成為強大的安全功能。
此外，紅外線熱像儀的成像能力遠遠超過手持式高溫計，因為它能夠自動辨識測量區域內的最高或最低溫度。與只能測量單點溫度的高溫計不同，紅外線熱像儀確保操作人員不會錯過任何極低溫度，從而提供全面、精確的溫度曲線，進而提升製程控制和產品品質。
經濟實惠的紅外線成像：Optris相機的競爭優勢
在這個應用中，一家金屬鑄造廠正在尋找一種更有效的解決方案，以便在精確測量液態金屬溫度的同時，減少對昂貴的一次性浸入式熱電偶的依賴。該公司每年採購數千個此類熱電偶，導致持續的支出龐大。他們的目標是找到一種更安全、更經濟高效的方法，在優化熔融金屬品質的同時，大幅節省耗材成本。在引入PI1M紅外線熱像儀後，該廠顯著降低了對一次性熱電偶的依賴。 PI1M提供精確的非接觸式溫度測量，提高了安全性和效率，並改善了金屬質量，從而顯著降低了成本。得益於Optris紅外線熱像儀極具競爭力的價格，該投資在投入使用的第一年就實現了收支平衡。
Optris 提供價格極具競爭力的紅外線熱像儀，讓金屬產業也能輕鬆獲得先進的熱成像技術。儘管價格親民，Optris 紅外線熱像儀仍保持高品質和高性能標準。這種性價比與先進功能的完美平衡，使企業能夠將複雜的溫度監測技術整合到生產流程中，並在不超出預算限制的情況下提高自動化水準。 Optris 紅外線熱像儀的親民價格也使其成為希望從傳統溫度測量方法升級到更先進的非接觸式解決方案的企業的理想選擇。
