CT 4M 具備僅 90 μs 的超高速曝光時間，專為快速製程監控而設計。其獨特的中波長靈敏度（2.2–6.0 µm）可有效應對發射率未知或變化的材料，溫度範圍涵蓋 0 °C 至 500 °C。適用於金屬、金屬氧化物、陶瓷等高難度材料的快速低溫測量，是傳統低溫感測器的理想替代方案。電子盒支援多種類比輸出及選購數位介面，便於靈活整合至各類終端系統。

CT P7 專為薄塑膠非接觸式溫度測量設計，溫度範圍 0 °C 至 710 °C，光譜範圍 7.9 µm，適用於氟塑料 (FEP)、聚醯亞胺 (PI)、丙烯酸 (PMMA) 等不透明薄膜。其耐高溫探頭可承受高達 85 °C，無需冷卻，並具備 150 毫秒快速反應時間，提升工業流程效率。CT P7 提供精準測量與高度適應性，是薄塑膠加工與生產過程中理想的溫度監控解決方案。

CT P3 專為薄塑膠薄膜溫度測量設計，光譜範圍 3.43 µm，可精準測量 50 °C 至 400 °C 的溫度。對於厚度小於 0.4 毫米的薄膜，CT P3 採用窄帶敏感紅外線感測器，以匹配材料在紅外光譜中的特定吸收帶。反應時間僅 100 毫秒，探頭可承受最高 75 °C 的環境溫度，電子盒提供多種輸出選項，並可搭配選購配件以擴展工業應用功能。

CT G5 專為玻璃產業設計，能精確測量 100 °C 至 1650 °C 的溫度。其 5.0 µm 專用光譜範圍特別適合玻璃材料的高發射率特性，確保表面與深層溫度的可靠測量。CT G5 採用兩件式設計，感測頭小巧，搭配獨立電子盒，便於靈活安裝與系統整合。最短 80 毫秒的反應時間，使其廣泛應用於汽車玻璃、平板玻璃及各類工業玻璃製程中的精確溫度監控。

CT 3M 專為金屬與高難度材料測量設計，特別適合在低溫環境下應用。其溫度範圍廣泛，涵蓋 50 °C 至 1800 °C，光譜範圍 2.3 µm，能精確監測金屬、二次金屬加工、金屬氧化物與陶瓷材料。不同型號可滿足多樣需求：3ML（50–400 °C）適合低溫金屬應用，3MH3（高達 1800 °C）適用於極端高溫製程。結合 1 毫秒的快速反應時間與堅固設計，CT 3M 是嚴苛工業環境中可靠的非接觸式溫度監控解決方案。

CT 2M 採用短波長技術，能有效降低發射率變化對測量的影響，並具備高光學解析度以確保精度。其溫度範圍涵蓋 250 °C 至 2000 °C，提供多種型號：2ML（250–800 °C）、2MH（385–1600 °C）、2MH1（385–2000 °C），適用於鋼、鎢、鐵、鎳及半導體等高溫金屬應用。InGaAs 偵測器結合高達 75:1 的距離與光斑比，即使在遠距離也能精確測量。結構緊湊，最快 1 毫秒反應時間，使其非常適合重型機械與金屬加工製程中的快速溫度監控。

CT 1M 系列專為高溫金屬應用設計，測量範圍 485 °C 至 2200 °C，光譜範圍 1.0 µm，能有效降低低發射率或發射率變化帶來的誤差。其緊湊結構與最快 1 毫秒的反應時間，使其特別適合於金屬、金屬氧化物及陶瓷的高溫製程監控。多種型號可選，提供不同溫度範圍與輸出方式，靈活整合至各類工業控制系統，並可搭配多樣化配件以滿足特定需求。

CTfast LT 專為快速測量應用而設計，具備僅 6 毫秒的超短響應時間，能即時擷取非接觸式溫度數據。溫度範圍 -50 °C 至 975 °C，光譜範圍 8–14 µm，並具備 25:1 的光學解析度。其類比與即時數位輸出（最快 4 毫秒）特別適合快速控制迴路應用。感測器結構堅固，可在高達 120 °C 的環境中穩定運行，無需額外冷卻，是工業流程與精密研究環境中理想的溫度監控解決方案。

CTex 系列專為危險環境設計，符合 ATEX 標準，可安全應用於需防爆的區域。感測器搭配齊納雙層安全柵，確保在易爆環境中的可靠運行。其採用與 CT LT 相同的感測頭，具備高達 22:1 的光學解析度與 8–14 µm 光譜範圍，特別適合高發射率目標。測量範圍涵蓋 -50 °C 至 975 °C，並能承受高達 180 °C 的環境溫度。穩定精準的性能，使其成為爆炸危險區域中理想的遠端溫度監控解決方案。