Optris PI 640i G7 紅外線熱像儀是PI 系列中專為玻璃產業設計的熱成像儀。它們在G7 光譜範圍內進行測量，專門為玻璃行業設計。高光學解析度（640 x 480 像素）、高達125 Hz 的快速影像取樣能力以及線掃描模式，提供了創新、詳細和準確的玻璃板或產品紅外線影像。卓越的輻射測量特性和高影像質量，使得在玻璃製造過程中，特別是在線掃描模式下，實現了前所未有的影像和測量品質。這款高性能、非製冷的紅外線熱像儀適用於玻璃行業，配備可更換鏡頭、工業配件，並附帶Optris 提供的免費軟體包。
-高性能非製冷USB 紅外線熱像儀，像素解析度為640x480
-溫度測量範圍：150 °C 至1,500 °C
-光譜靈敏度匹配玻璃在7.9µm 的最高發射率
-幀率高達125 Hz

Optris PI 450i G7 紅外線熱像儀是專為玻璃工業設計的PI系列產品，工作於G7它們專門為玻璃製造設計，提供高達1500°C的測量範圍，並能在高達80°C的環境溫度下工作，非常適合玻璃爐窯附近的紅外線工業條件。線路掃描模式提供詳細且精確的玻璃片或產品的紅外線影像，確保輻射測量和影像品質。此款高性能、無冷卻紅外線熱像儀配有可對接鏡頭和工業配件，並配有免費外接設備。紅外線熱像儀使用382 x 288無微測輻射熱計劃紅外線輻射裝置創建輻射熱圖像。
-溫度測量範圍：-20°C 至 900°C - 可選最高可達 1500°C
-光譜完全相同匹配玻璃在7.9μm時的最高發射率
-熱影像幀率高達80 Hz
-極高的熱度，高達 40 mK
-環境溫度最高可達80°C

Optris PI 1M是一款短波紅外線熱像儀，擅長對挑戰性物體進行非接觸熱成像，能夠精確測量熱金屬、鋼材、陶瓷和半導體的表面溫度。 Optris PI 1M熱成像儀特別適用於金屬加工應用中的溫度測量。在1微米的短波測量波長下，其發射率明顯高於傳統紅外線長波範圍內的測量值。熱像儀的快速感測器電子設備使其反應時間短至1毫秒，這在可視化熱過程的同時實現了精確測量。該熱像儀透過USB接口和類比及數位製程接口，實現了與控制系統和製造過程的無縫整合。
-高動態CMOS探測器，解析度高達764 x 480像素
-1微米光譜靈敏度
-寬測量範圍，從450°C到1800°C，無需子範圍
-高達1 kHz幀速率，適用於快速製程
-類比和數位輸出，響應時間為1毫秒
-具有線掃描功能

熱成像儀Optris PI 08M，其光譜範圍約為800 nm，專為減少NIR和CO2雷射加工應用中的測量誤差而設計。具有575°C至1900°C的連續測量範圍，這款緊湊型紅外線熱像儀非常適合這些特定的增材製造應用。在0.8微米的短波測量波長下，其發射率明顯高於傳統紅外線長波測量範圍內的測量。在熱過程的可視化的同時，快速的感測器電子設備允許反應時間縮短至1毫秒。透過提供USB和類比及數位製程接口，它能夠無縫整合到控制系統和製造過程中。
-高動態CMOS探測器，解析度高達764 x 480像素
-光譜靈敏度約為0.8 µm - 非常適用於NIR和CO2雷射加工應用
-寬測量範圍從575°C到1900°C
-高達1 kHz的幀率，適用於快速製程
-類比和數位輸出，響應時間為1毫秒
-具有線掃描功能

Optris PI 05M是超短波長紅外線熱像儀，專為精確非接觸溫度測量超高溫目標而設計。它在短波長紅外線範圍內工作（05M：0.50 – 0.54 μm），並具備從900到2450°C的寬溫度測量範圍，適用於熔融金屬、超高溫材料以及近紅外線和二氧化碳雷射加工。這款紅外線熱像儀專為熔融金屬和涉及近紅外線及二氧化碳雷射的增材製造過程中的精確溫度分析而設計。其短波長範圍與金屬材料的最高發射率相匹配，確保可靠的溫度測量，並在精度和重複性方面優於長波長紅外線熱像儀。
-高動態CMOS探測器，解析度高達764 x 480像素
-光譜靈敏度約為0.5 µm - 適用於熔融金屬和雷射工藝
-寬測量範圍，從900到2450°C
-高達1 kHz的幀率，適用於快速工藝
-類比和數位輸出，響應時間為1毫秒

高性能熱成像儀optris PI 640i是一款小巧、功能強大且精確的紅外線熱像儀，具有VGA分辨率，能夠提供卓越的紅外線影像品質。 PI 640i的光學解析度為640x480像素，能夠捕捉清晰的輻射影像和影片。其17微米的長波紅外線輻射像素間距、高靈敏度和低於40mK的熱噪聲，允許對僅覆蓋3x3像素的小目標進行精確測量。這款多功能熱成像儀具有高解析度和影像質量，能夠精確測量-20至1500°C的全溫度範圍。此紅外線熱像儀相容於工業熱紅外線配件，並配有Optris提供的免費軟體包。
-高性能非冷凍USB紅外線熱像儀
-光譜範圍：8至14微米
-高像素解析度：640x480
-幀率：32Hz，子影像幀率可達125Hz

PI 450i 是一款為研究人員和製程工程師量身打造的紅外線熱像儀，具有寬廣的溫度測量範圍，從-20°C 到900°C（可擴展至1500°C）。其非製冷探測器技術實現了低功耗、高解析度（382 x 288）的經濟型設計。 80Hz 的快速幀率確保了在快速生產過程中精確的溫度檢測，無運動模糊或影像失真。 PI 450i 提供高靈敏度（高達40 mK）和廣泛的環境溫度範圍（高達80°C），使其適用於惡劣環境下的工業應用。其17 µm 像素間距和可互換鏡頭選項可對最小目標進行精確測量，而不會違反紅外線衍射限制。
-溫度測量範圍：-20°C 至900°C - 可選擴展至1500°C
-光譜範圍：8 至14 µm
-熱成像幀率高達80 Hz
-熱靈敏度非常高，最高可達40 mK
-環境溫度等級高達80°C

PI 400i 紅外線熱像儀滿足研究人員和工程師的需求，溫度範圍廣泛，從-20°C 到900°C（可擴展到1500°C）。利用非製冷探測器技術，它提供高可靠性、低功耗和快速的80Hz 幀率，實現無運動模糊成像。其17 µm 像素間距支援精確測量，並配有可互換鏡頭光學系統。在德國製造，並附有可選的校準證書，確保在苛刻工業環境中的可靠性。其堅固的設計使其能夠輕鬆應對惡劣條件，非常適合需要高可靠性的關鍵應用。從電氣系統到工業流程，PI 400i 提供精確結果，確保在各個行業中實現準確的溫度測量。
-溫度測量範圍：-20°C 至900°C - 可選擴展至1500°C
-光譜範圍：8 至14 µm
-快速幀率：80 Hz