在鋼鐵鍛造、真空熔煉或玻璃熔爐等嚴苛工況下，單波長（單色）紅外線測溫儀經常面臨失效。當現場充斥水氣、粉塵、煙霧，或是測量視窗因油污受到部分遮擋時，光學訊號的衰減會導致單色測溫儀的讀值嚴重偏低。此外，金屬液體在流動、冷卻或表面氧化過程中，其發射率（Epsilon）會發生不可預測的劇烈波動，這對傳統儀器而言是無法克服的物理限制。
作為 Optris 德國官方授權台灣代理商，萬和儀器 引進的 Optris CTratio 系列，採用先進的雙波長比率（Dual-Wavelength Ratio）技術。它不依賴單一波長的輻射能量絕對值，而是透過捕捉兩個極為接近的短波長能量比值來計算溫度。這種光學原理使其在訊號衰減高達 90% 的惡劣環境下，依然能輸出精確的絕對溫度。
一、 技術解析：雙色比值如何克服發射率波動與光學遮擋？
現場運維工程師在處理高溫熔煉時，最常遇到的數據跳變問題，在 CTratio 的設計中被徹底解決：
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抗光學路徑衰減：當現場的水蒸氣、粉塵遮擋了 90% 的光學視線，或者熔爐視窗（Sight Glass）上結了厚厚的煙垢，只要兩個波長的衰減比例相同，其能量比值（Ratio）就保持不變，儀器便能精準測溫。
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發射率無關性：許多合金在高溫下會迅速表面氧化，發射率可能在 0.2 到 0.6 之間劇烈變動。單色測溫儀會因此產生數百度誤差，而 CTratio 專門針對短波長（1M 核心波長約 1μm / 2M 約 1.6μm）進行比值運算，將發射率變動引起的誤差降至趨近於零。
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光纖分體式設計：感測頭內部不含任何電子元件，透過不鏽鋼鎧裝光纖將訊號傳回主控盒。這使探頭能直接耐受高達 250°C 的環境高溫，且完全免疫現場強大的高頻感應加熱（Induction Heating）電磁干擾。
二、 現場整合與製程自動化對接
萬和儀器的技術團隊在協助客戶進行系統升級時，能針對 CTratio 的多功能介面進行深度整合：
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雙雷射精準瞄準：內建的綠色雷射瞄準系統（Green Laser Window），即使面對高溫赤熱（Red-hot）的金屬表面，依然清晰可見，解決了傳統紅雷射被紅熱背景反差吞噬而無法對焦的痛點。
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多工業界面對接：主控盒支援多種數位通訊選件，包括 Profibus DP、Modbus RTU、EtherCAT 以及 0/4-20mA 類比輸出，可直接進入廠區的主 PLC 系統進行閉環制程控制。
三、 Optris CTratio 系列 核心型號實戰選型表
萬和儀器：您的精密非接觸測溫技術夥伴
作為 Fluke 與 Optris 台灣經銷代理商，萬和儀器不僅提供高性能的量測儀器，更提供深度的技術支援：
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選型與現場諮詢：根據您的監測距離、目標材質（金屬、玻璃、塑膠）與環境干擾，推薦最適配的 Optris 產品組合。
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教育訓練與軟體支援：協助您的維修人員熟練使用分析軟體，將數據轉化為具體的製程優化建議。
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售後品質保障：確保設備原廠校正與售後支援，協助企業建立符合國際規範的測溫標準，讓您的精密測溫專案無後顧之憂。
若您需要針對您的廠區進行電力品質檢測與優化規劃，歡迎聯繫「萬和儀器」，了解更多 Optris 產品的技術細節。
